從1969 年第一台PLC問世開始，PLC在工業控製領域中逐漸取代繼電器（qì）控製。現階段，由於超大規模集成電路技術的快速發展（zhǎn），微處理器的（de）價格大幅（fú）度下降，使得PLC成本降低，運算速度提升，在軟硬件功能（néng）上得到顯著提高。PLC作為增長速度最快的工業控製器，隨著（zhe）計算機網絡的發展，PLC作為（wéi）自動化控製網絡的重要組成部分，將在工業的眾多領域中（zhōng）發揮越來越大的作用，PLC發展（zhǎn）趨勢（shì）主要表現在：

 

（1）運（yùn）算速（sù）度高、容量更大的方向發展

 

  為了滿足工業控（kòng）製要求，必須提高PLC的計算和處理能力（lì），必須要求PLC具有快速的響應速度和更（gèng）大的存儲容（róng）量。同時PLC主機的掃描速度也是PLC性能的一個重要指標。

 

（2）大型化、小型化的兩極發展

 

  為了適應（yīng）市場需求的多樣性，PLC向著超大型和超小型兩（liǎng）個方向發展。為了適應大規模控製係統的需求，大型PLC向著大存儲容量、高速度、高性（xìng）能方（fāng）向發展，使（shǐ）用更（gèng）高位數（shù）微處（chù）理器，多CPU並行（háng）工作[7]。小型化PLC向著體積小（xiǎo）、功能強、價格低的方向發展，由整體結構轉（zhuǎn）向小型模塊化結構，配置擴展更加靈活。

 

（3）發展（zhǎn）智能化（huà）模塊、增強通信能力（lì）

 

  為了滿足各種特殊功能要求，開發的智能模塊是以（yǐ）微（wēi）處理（lǐ）器作為基礎的功能部件，擁（yōng）有獨（dú）立的處理器，實現並行工作，這就節約了主機CPU的占有時間（jiān），有利於加快PLC主機的掃描（miáo）速度及完成特殊的控製要（yào）求。目前，PLC網絡將多（duō）個PLC、I/O模塊與工業計算機、 以（yǐ）太網構（gòu）成一體化的自動控製係統現場總線技術也在PLC控製中得到廣泛應用。另外，為了加強網絡通信的能力，PLC生產廠家寫上（shàng）采用統一的通信標準，增強了資源共享能力（lì）和應用範（fàn）圍。

 

（4）加強外部故障（zhàng）的檢測與處理能力

 

  資料（liào）顯示：在PLC控製係統的故障中，有 20%屬於PLC內部故障，80%為PLC的外部故障。內部故（gù）障可以通過PLC本身（shēn）的軟硬件平台，應用自診斷技術（shù）、冗（rǒng）餘容（róng）錯技術來提高PLC穩定性；而能夠快速準確的（de）診（zhěn）斷外（wài）部故障，將大大減少維修時間，PLC生產廠家致力於研製（zhì）用於外（wài）部故（gù）障檢測的智能模塊（kuài）。

 

  我司等（děng）離（lí）子拋光設備係統采用可編程控製（zhì）PLC(programlogiccompute)為核心的控製係（xì）統。PLC 即可編程邏輯控製器，是一種微處理器作為核（hé）心的數字（zì）控製係統，主要應用於工業控製單元，是工業控製核心部分。PLC 的（de）特點主（zhǔ）要有：

 

（1）工業 PLC 具有功能強，與相同功能的繼電器相比，性能價格比高，可（kě）實現分散的控製，集中（zhōng）統一管理；

 

（2）可編（biān）程序控製器產品標準化（huà），係列化（huà），模（mó）塊（kuài）化，適應性強，PLC有很強的（de）帶負（fù）載能力，可以直接驅動一般的（de）電磁閥和交流接觸器；

 

（3）可靠性（xìng）高，抗幹擾（rǎo）能力強，PLC 用軟件代替大量（liàng）的繼電器和時間繼電器，隻有少量輸入和輸出接口硬件，因（yīn）此大（dà）大減少了觸點接觸不良所造成的（de）故障；

 

（4）係統的設計、安裝布線、調試工作量少（shǎo）。PLC 的軟件檢測（cè）可以在實驗室模擬調試。完成了係統（tǒng）硬件安裝和連接後，通過現場調試，現場修改程序來完善 PLC 軟件（jiàn），因此 PLC 係統調試周期短。

 

（5）體積小，能耗（hào）低（dī）。
 

（6）我司等離子拋（pāo）光（guāng）設備的 PLC 控製（zhì）器是以 PLC 控（kòng）製器為邏輯（jí）核（hé）心，采用軟繼電器、軟接觸器的程（chéng）序語（yǔ）言實現加工的基（jī）本功能，包括設備啟動（dòng）停止、急停、電解液加熱、循環、過濾，排風、冷卻，補液驅動係統啟動等（děng）；對電解液溫度進（jìn）行監（jiān）控（kòng），保證溫（wēn）度穩定；根據不（bú）同工況控製伺服電機實現掛架不同運動狀態；同時監控（kòng）加（jiā）工過程中的電流變化和電壓變化，作（zuò）為程（chéng）序運行邏輯判斷的參（cān）考條件。